X射线谱数据处理
在X射线谱数据分析中,首先,射线脉冲信号通过放大器和多道分析器,被输入到计算机系统中。系统通过软件对数据进行一系列处理,以实现样品含量的定性和定量分析。以下是主要的处理步骤:
(1) 原始谱数据预处理: 测量过程中存在的统计性误差导致谱线带有统计涨落,因此需要进行光滑处理。系统采用二阶多项式五点光滑法,用公式 (ni-2 + 2*ni-1 + ni+1 + 2*ni+2) / 5 对计数ni进行平滑,可多次重复以优化效果。
(2) 自动寻峰: 通过比较法,系统自动找出谱线中的峰位。如果第i道计数满足 ni > k*(ni-1 + ni+1) (k通常为1-1.5),则认为峰位于i-1, i, i+1道,选取计数最大的道址作为峰位。
(3) 能量刻度: 通过自动寻得的特征峰位置,计算出与X射线能量的对应关系,然后通过元素特征X射线能量库验证,以确定待测元素种类。
(4) 峰边界确定: 在定量分析中,需要明确特征峰的边界道址。对于高含量元素,由于半导体探测器的高分辨率,峰边界通常基于峰的全宽度来确定背景计数。
(5) 净峰面积计算: 使用沃森法对选定的峰边界内的数据点F进行处理,计算峰的净面积,其中F称为面积因子,β1和β2分别代表左边界和右边界。
扩展资料
X射线谱, 波长大致介于700~0.1埃范围内的电磁辐射,X射线谱由连续谱和标识谱两部分组成,标识谱重叠在连续谱背景上,连续谱是由于高速电子受靶极阻挡而产生的轫致辐射,其短波极限λ0由加速电压V决定:λ 0 = hc /( ev )为普朗克常数,e为电子电量,c为真空中的光速。标识谱是由一系列线状谱组成,它们是因靶元素内层电子的跃迁而产生,每种元素各有一套特定的标识谱,反映了原子壳层结构 的特征。同步辐射源可产生高强度的连续谱X射线,现已成为重要的X射线源。
X射线谱数据处理
(1) 原始谱数据预处理: 测量过程中存在的统计性误差导致谱线带有统计涨落,因此需要进行光滑处理。系统采用二阶多项式五点光滑法,用公式 (ni-2 + 2*ni-1 + ni+1 + 2*ni+2) \/ 5 对计数ni进行平滑,可多次重复以优化效果。(2) 自动寻峰: 通过比较法,系统自动找出谱线中的峰位。如果第i道...
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