平行平晶干涉条纹图
透射光的牛顿环是如何形成的?如何观察?它与反射光的牛顿环在明暗上有...
透射光的牛顿环是在平板玻璃下面产生的。在下方观察即可。它与反射光的牛顿环是明暗互补，因为有半波损失与反射光插入。在牛顿环的示意图上，下部为平面玻璃（平晶），A为平凸透镜，其曲率中心为O，在二者中部接触点的四周则是平面玻璃与凸透镜所夹的空气气隙。当平行单色光垂直入射于凸透镜的平表面时...
我国目前有 现行的 机械密封 光谱检验标准吗
本标准适用于采用单色光源的光学法检验机械密封环端面平面度.2 术语 2. 1 干涉图 光波干涉产生的干涉条纹(亮带或暗带)所组成的图形.2. 2 干涉光谱带(光带)干涉图上的暗带.3 检验装置 3. 1 推荐使用的检验装置结构见附录B(参考件).3. 2 光源应为单色光源.3. 3 检验用光学平晶应为一级精...
表面粗糙度有几种标准
1、高度特征参数 轮廓算术平均偏差 Ra：在取样长度（lr）内轮廓偏距绝对值的算术平均值。在实际测量中，测量点的数目越多，Ra越准确。轮廓最大高度 Rz：轮廓峰顶线和谷底线之间的距离。在幅度参数常用范围内优先选用Ra。在2006年以前国家标准中还有一个评定参数为“微观不平度十点高度”用Rz表示，轮廓...
粗糙度仪的测量方法有那些?
粗糙度的测量方法主要分为接触式粗糙度仪测量和非接触式粗糙度仪测量。这两种方法都可以提供表面粗糙度的数值和图像表示。一、接触式粗糙度测量仪：接触式粗糙度测量仪是通过机械探针与被测物体表面接触来进行测量的。当机械探针接触到被测表面时，测量系统会记录下机械探针的运动轨迹和力的变化。通过测量...
表面粗糙度用什么仪器测量
表面粗糙度用双管显微镜测量。可用作Ry与Rz参数评定，测量范围0.5~50。也可以利用光波干涉原理 (见平晶、激光测长技术)将被测表面的形状误差以干涉条纹图形显示出来，并利用放大倍数高 （可达500倍）的显微镜将这些干涉条纹的微观部分放大后进行测量，以得出被测表面粗糙度。应用此法的表面粗糙度测量工具...
测量表面粗糙度还有哪些方法
直接用现代化工业测量仪器来测量是最省时省力的。比如测纳米级别的粗糙度用先进的光学测量仪器——白光干涉仪。它是以白光干涉扫描技术为基础研制而成用于样品表面微观形貌检测的精密仪器。利用光波干涉原理 将被测表面的形状误差以干涉条纹图形显示出来，并利用放大倍数高的显微镜将这些干涉条纹的微观部分放大...
在迈克尔逊干涉仪的M2光路中,多了一块平板玻璃(又称为'平晶",其两个...
迈克耳孙干涉仪的最著名应用即是它在迈克耳孙-莫雷实验中对以太风观测中所得到的零结果，这朵十九世纪末经典物理学天空中的乌云为狭义相对论的基本假设提供了实验依据。除此之外，由于激光干涉仪能够非常精确地测量干涉中的光程差，在当今的引力波探测中迈克耳孙干涉仪以及其他种类的干涉仪都得到了相当...
ra3.2是什么意思
其测量范围在0.5到50之间。4. 干涉法：这种方法基于光波干涉原理（相关于平晶和激光测长技术），通过干涉条纹图形显示被测表面的形状误差，并利用高放大倍数（可达500倍）的显微镜放大干涉条纹的微观部分进行测量，从而得出表面粗糙度数值。资料来源：百度百科-ra、百度百科-表面粗糙度 ...
计量考试有什么可怕
9、用平面平晶检定测量平面度是什么原理：等厚干涉原理；举例：如何用平面平晶检定千分尺的平面度？怎么计算千分尺的平面度？解：用平面平晶检定千分尺平面度时，是根据等厚干涉原理，利用光波干涉法进行检定的；用平面平晶检定千分 尺平面度时，使平面平晶接触千分尺测量面后，调出千分尺平面度上干涉条纹，按...
模具的core pins是什么意思
core pin: 心销 | 心型梢 | 中心销 | 穿孔杆
滦南县利肝回答： 平晶是利用光波干涉现象测量平面度误差的,故其测量方法称为平晶干涉法(图2),也称技术光波干涉法.测量时,把平晶放在被测表面上,且与被测表面形成一个很小的楔角 θ,以单色光源照射时会产生干涉条纹.干涉条纹的位置与光线的入射角有关.如入射光线垂直于被测表面,且平晶与被测表面间的间隙很小,则由平晶测量面P反射的光线与被测表面反射的光线在测量面 P发生干涉而出现明或暗的干涉条纹.若在白光下,则出现彩色干涉条纹.如干涉条纹平直,相互平行,且分布均匀,则表示被测表面的平面度很好;如干涉条纹弯曲,则表示平面度不好.其误差值为f= (v/ω)*(λ/2) λ为光波波长,白光的平均波长为0.58μm,ν为干涉带弯曲量,ω为干涉带间距.
查法14791378631问： 为什么用平行平晶测光线平行度是干涉条纹越少越好 - ？
滦南县利肝回答： 1. 根据等厚干涉干涉原理,平行光进入晶体内. 2. 如果晶体是平行的话,(假设晶体是平行的话,光是正入射于晶体表面,晶体前后表面反射光是沿原光路返回,在晶体表面的干涉情形就完全相同,所以要么看到亮或暗). 3. 同理,如果晶体不平行,那么晶体表面的干涉就与晶体的厚度有关系,那么看到了干涉条纹.当然没有条纹更好,有条纹说明平行度不好. 所以用平行平晶测光线平行度是干涉条纹越少越好.
查法14791378631问： 如何用干涉仪检测平面平晶 - ？
滦南县利肝回答： “计算干涉条纹误差”,你说的是用干涉条纹来计算平晶的面形误差吧? 如果要定量计算,一般最好是用移相干涉法,可以得到每一点的相对高度,从而得到整个面的面形.如果只有一幅干涉图,就只能倾斜平晶或者参考镜使得干涉条纹变成密集的直线组,然后用傅里叶变换法求解. 如果只是定性的看一看面形好坏则比较简单了,如果条纹都是直条纹,说明面形是好的,如果条纹弯的就说明面形不好,弯的越厉害面形越差.如果要了解详细的还是找本书看看吧,比如北理工出版社《光学测试技术》.
查法14791378631问： 平行平晶 测量千分尺平行度？
滦南县利肝回答： 使用平晶检定时,依次将4块厚度差为1/4螺距的平晶放入两测量面间,使两测量面与平晶接触,转动棘轮机构,并轻轻转动平晶,使两测量面出现的干涉环或干涉带数目减至最少.分别读取两测量面上的干涉条纹数,取两测量面上的干涉条纹数之和,代入公式n/2.λ,结果即为两测量面的平行度.利用平晶组中每一块平行平晶按上述程序分别进行检定,取其中最大值作为受检千分尺的两测量面平行度测量结果. 但一般检定中很少有人用平晶法进行检定,一般都是用量块来检平行度.方法是用量块的同一个面来在测量面的上下左右四个位置上分别读数,并求出差值,其中最大值即为被检千分尺的测量面平行度.
查法14791378631问： 如图,在工业生产中常用干涉法检查物体表面是否平整,若被测物表面平整干涉条纹是一组平行的直线,否则条 - ？
滦南县利肝回答： 薄膜干涉是等厚干涉,即明条纹处空气膜的厚度相同.从弯曲的条纹可知,检查平面左边处的空气膜厚度与后面的空气膜厚度相同,知A处凹陷. 凹陷的边缘为圆形,故待验板的上表面有一凹陷的圆坑;同理,B处是凸出,此处干涉光来源于被测物的上表面与标准样板的下表面进行光的叠加;故答案为:凹,凸,被测物,标准样板.
查法14791378631问： 平面度的介绍 - ？
滦南县利肝回答： 原发布者:hgguohui 平面度检测方法姓名:李国辉专业:机械工程学号:31104002学号:31104002平面度的定义•平面度是指基片具有的宏观凹凸高度相对理想平面的偏差.•平面的平面度公差符号、基本表示方法,如图1所示.图1平面度...
查法14791378631问： 法布里 - 珀罗标准具的结构及其用途? - ？
滦南县利肝回答： 法布里—珀罗标准具,属于物理实验仪器.平行平晶P17、隔圈6、平行平晶P28放置在标准具框11中,保护盖1与标准具框11螺钉连接,压圈5位于保护盖1内,压片2、弹簧保护隔圈3、压簧4位于压圈5内,干涉滤光片9放置在标准具...
查法14791378631问： 千分尺的平行度如何测量? - ？
滦南县利肝回答： 一般用平性平晶和量块检千分尺的平行度.若用量块检、你怕测不准(因为1/4D),就用可用平晶检.具体如下:检定时,将平行平晶放在千分尺两测量面间,转动千分尺测杆,使千分尺两测量面与平行平晶两个测量面接触,接触面之间产生干涉条纹,以两测量面上产生的干涉条纹数代入(m+n)r/2式.其中,m,n为两测量面上产生的干涉条纹数;r为所用光源的波长.检定需要四块平性平晶,其尺寸彼此差值相当于微动螺丝四分之一转依次使四块平性平晶与测量面接触,并调到干涉带条数为最少时进行读数.最后以四块平性平晶在外径千分尺两测量面产生干涉条纹数最多的一块作为千分尺的平行性.
查法14791378631问： 用干涉法检查工件表面的质量,产生的干涉条纹是一组平行的直线.若劈尖的上表面向上平移一小段距离,如图 - ？
滦南县利肝回答： 要检查玻璃板上表面是否平整所以干涉形成的条纹是下板的上表面和上板的下表面的反射光干涉产生的.具体为:当两反射光的路程差(即膜厚度的2倍)是半波长的偶数倍,出现明条纹,是半波长的奇数倍,出现暗条纹,当劈尖的上表面向上平移一小段距离,亮条纹将向劈尖前一级亮条纹移动,但亮暗条纹间距不变,故C正确,ABD错误; 故选:C.
查法14791378631问： 用波长为λ的单色光照射单缝O,经双缝N、M在屏上产生明暗相间的干涉条纹,如图所示,图中a、b、c、d、e为 - ？
滦南县利肝回答： BD 试题分析:光程差是指从双缝处开始算起的,产生亮条纹是 C点产生亮条纹的光程差是0,bd两点亮条纹是N、M到达b的路程差为λ,ae亮条纹是N、M到达e的路程差为2λ,故BD正确,AC错误 故选BD 点评:产生亮条纹的光程差满足 产生暗条纹的光程差满足
