膜厚仪的（XRD）

请教薄膜样品做XRD、SEM和原子力显微镜测试的先后顺序？~

薄膜样品做XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。在这三个测试中原子力显微镜更具有优势。想了解更详细的信息，推荐咨询Park原子力显微镜。Park原子力显微镜的Park NX-Hivac。在高真空条件下执行扫描扩散电阻显微镜测量可减少所需的针尖-样本相互作用力，从而大幅度降低对样本和针尖的损伤。如此可延长各针尖的使用寿命，使扫描更加低成本和便捷，并通过提高空间分辨率和信噪比得到更为精确的结果。因此，利用NX-Hivac进行的高真空扫描扩散电阻显微术测量可谓是故障分析工程师增加其吞吐量、减少成本和提高准确性的明智选择。XRD、 SEM、AFD三者的区别：1、 XRD（X-ray diffraction）是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。2、 SEM（扫描电子显微镜）是一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。3、 AFM （原子力显微镜）是一种表面观测仪器，与扫描隧道显微镜相比，能观测非导电样品。XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。想要了解原子力显微镜的相关信息，推荐咨询Park原子力显微镜。Park成立至今，致力于新产品和新技术的开发，为客户解决各种技术难题，提供最完善的解决方案。Park原子力显微镜具有综合性的扫描模式，因此您可以准确有效地收集各种数据类型。从使用世界上唯一的真非接触模式用来保持探针的尖锐度和样品的完整性，到先进的磁力显微镜， Park在原子力显微镜领域为您提供最具创新、精确的模式。

不知道你所说的薄膜法指什么.
一般对于薄膜材料,XRD能够做:
掠入射(GIXRD): 分析晶态薄膜物相,残余应力
反射率测量(XRR): 对膜质量要求较高,晶态非晶皆可.一般分析纳米级别薄膜的厚度,深入一点可通过拟合的方法来分析密度,表面界面的粗糙度
掠入射小角散射(GISAXS): 分析薄膜的纳米结构.这个比较新.

简单地说萤光X射线装置(XRF)和X射线衍射装置(XRD)有所不同。
萤光X射线装置(XRF)能得到某物质中的元素信息。
X射线衍射装置(XRD)能得到某物质中的结晶信息。
具体地说,比如用不同的装置测定食盐(氯化钠=NaCl)时,从萤 光X射线装置得到的信息为此物质由钠(Na)和氯(Cl)构成,而从X射线衍射装置得到的信息为此物质由氯化钠(NaCl)的结晶构成。单纯地看也许会认为能知道结晶状态的X射线衍射装置(XRD）为好,但当测定含多种化合物的物质时只用衍射装置(XRD)就很难判定,必须先用萤光X射线装置(XRF)得到元素信息后才能进行定性。
膜厚仪也叫X射线测厚仪，它的原理是物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多 余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

XRF镀层测厚仪是一种基于X射线荧光原理的涂层厚度测量仪器。其基本原理如下：
X射线发射：XRF镀层测厚仪内置的X射线源发射X射线，X射线穿过待测涂层并作用于样品下方的探测器。
X射线荧光反应：样品表面的涂层对X射线产生荧光反应，释放出特征X射线，特征X射线能量与涂层材料相关。
特征X射线检测：探测器接收到特征X射线，并将其转换为电信号，通过电路传输至仪器内部。
涂层厚度计算：仪器根据特征X射线的能量和强度，通过预定的算法和标定曲线，计算出涂层的厚度。
XRF镀层测厚仪利用X射线荧光原理，能够实现高精度的涂层厚度测量，且适用于多种材料类型和涂层体系。其优势包括非破坏性、快速测量、高精度、无需对样品进行特殊处理等。但需要注意的是，XRF镀层测厚仪的测量结果可能受样品表面平整度、涂层材料性质等因素影响，因此在实际应用中需要进行适当的样品准备和测量条件设置。

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呈贡县17053418793： pvd镀膜的厚度的测量方法有哪些?具体设备? - ？
劳熊尼美： 1.台阶仪 2.透射光谱法----分光光度计 3.椭篇仪 4.XRD小角衍射 5.AFM三维形貌 6.质量法----超微量天平

呈贡县17053418793： 光学膜厚仪的使用及原理 - ？
劳熊尼美： 光学薄膜测厚仪 (SpectraThick Series) 的核心技术介绍和原理说明 SpectraThick series的特点是非接触, 非破坏方式测量,无需样品的前处理,软件支持Windows操作系统等.ST series是使用可视光测量wafer,glass等substrates上形成的氧...

呈贡县17053418793： 哪里有进口X射线镀层测厚仪卖?哪种品牌的镀层测厚仪比较好? - ？
劳熊尼美： 在网上搜一下X射线镀层测厚仪,就可以找到卖测厚仪的厂家,一般来说,市场上有进口的膜厚仪有四个品牌,日本精工、德国fischer、英国CMI、韩国XRF.其中以日本精工价格最贵,操作上也较复杂一些,一般用于日资,德国fischer是最早从事X射线研究的膜厚仪厂家,其精度高、稳定性也强,其客户比例占市场的80%,主要用于五金、电镀行业.英国CMI,早期在美国组装,后期在上海线组装,主要应用于PCB线路行业.韩国XRF是近几年上市的,其性能还不是很稳定,所以不建议选这款.最好的选择是fischer,不会太贵,而且测量准确,同行有很多厂家在用,测量数据可被大家认可!

呈贡县17053418793： 什么是膜厚测试仪? ？
劳熊尼美： 台式的荧光X射线膜厚测试仪,是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子,俗称为二次荧光,,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值.

呈贡县17053418793： XRD分析中的XRD事什么意思? - ？
劳熊尼美： 你可以参看一下 XRD世界网,那里有专业的解释 XRD是英文X-ray diffraction或者X-Ray Diffractometer的缩写,即X射线衍射,或X射线衍射仪.我们经常也把X射线衍射分析技术也直接称为XRD分析,或简称为XRD.XRD分析手段有很2种,分单晶X射线衍射法,多晶X射线衍射法.对应地,所用的XRD设备,也分为单晶衍射仪和多晶衍射仪.

呈贡县17053418793： XRF镀层测厚仪的原理是什么? - ？
劳熊尼美： 1、原理:X射线照射样品,经过镀层界面,射线返回的信号发生突变,根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度.理论上两层中含有同一元素测试很困难(信号分不开). 2、XRF镀层测厚仪: 俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等. 功能:精密测量金属电镀层的厚度. 应用范围:测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22(Ti)到92(U).

呈贡县17053418793： XRD是测什么用的 - ？
劳熊尼美： XRD可以测的是: 1、结晶度的测定 结晶度定义为结晶部分重量与总的试样重量之比的百分数.非晶态合金应用非常广泛,如软磁材料等,而结晶度直接影响材料的性能,因此结晶度的测定就显得尤为重要了.测定结晶度的方法很多,但不论哪...

呈贡县17053418793： 薄膜测厚仪的测量原理是什么?精度可以达到多少? - ？
劳熊尼美： 在被测量的薄膜上垂直照射可视光,光的一部分在膜的表面反射,另一部分透进薄膜,然后在膜与底层之间的界面反射,薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光产生干涉现象.利用白光干涉测量法的原理,它用一个宽波段的光源来测得不同波长的反射数据,由于反射率n和k随薄膜的不同而变化,根据这一特性进行曲线拟合从而求得膜厚.不同类型材料的相应参数通过不同的模型来描述,从而保证了不同类型材料膜厚测量的准确性.大成精密设备薄膜测厚仪采用非放射性先进测量技术,是测量隔膜厚度的理想解决方案.

呈贡县17053418793： XRD是测什么用的这个仪器大约需要花多少钱 - ？
劳熊尼美： xrd是X射线衍射 x ray diffraction 测样品里面的晶体、非晶体比例,如果样品是晶体粉末的话还可以测里面有什么元素,如果样品是一块完整的晶体薄膜就可以测有什么crystal plane在表面, 机器价格大概43~50万元[人民币]

呈贡县17053418793： 测试金属表面镀层厚度的仪器叫什么 - ？
劳熊尼美： 膜厚仪,分为磁感应膜厚仪,电涡流膜厚仪,荧光X射线膜厚仪.