我公司现有台晶体管特性图示仪要测量场效应管的参数,测电流和电压没问题,但不知道怎么测管的RDS(on)值

作者&投稿:养杜 (若有异议请与网页底部的电邮联系)
测量场效应管和晶体管时,晶体管特性图示仪的设置有何不一样~

用晶体管图示仪测量场效应管时,其栅极是选电压信号,而漏极对应的是加电流信号。由于电流比上电压,其传递函数(放大倍数)叫做跨导。对于晶体三极管的检测,其基极和集电极都加的是电流信号,因此它的放大倍数是一个无量纲的贝塔(B)(符号不好打)。

  1. 集电极电源极性按钮,极性可按面板指示选择。
  2. 集电极峰值电压保险丝:1.5A。
  3. 峰值电压%:峰值电压可在0~10V、0~50V、0~100V、0~500V之连续可调,面板上的标称值是近似值,参考用。
  4. 功耗限制电阻:它是串联在被测管的集电极电路中,限制超过功耗,亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。
  5. 峰值电压范围:分0~10V/5A、0~50V/1A、0~100V/0.5A、0~500V/0.1A四挡。当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时,须先将峰值电压调到零值,换挡后再按需要的电压逐渐增加,否则容易击穿被测晶体管。
  AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描,以便能同时显示器件正反向的特性曲线。
  6. 电容平衡:由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容,都将形成电容性电流,因而在电流取样电阻上产生电压降,造成测量误差。为了尽量减小电容性电流,测试前应调节电容平衡,使容性电流减至最小。
  7. 辅助电容平衡:是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称,而再次进行电容平衡调节。
  8. 电源开关及辉度调节:旋钮拉出,接通仪器电源,旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。
  9. 电源指示:接通电源时灯亮。
  10. 聚焦旋钮:调节旋钮可使光迹最清晰。
  11. 荧光屏幕:示波管屏幕,外有座标刻度片。
  12. 辅助聚焦:与聚焦旋钮配合使用。
  13. Y轴选择(电流/度)开关:具有22挡四种偏转作用的开关。可以进行集电极电流、基极电压、基极电流和外接的不同转换。
  14. 电流/度×0.1倍率指示灯:灯亮时,仪器进入电流/度×0.1倍工作状态。
  15. 垂直移位及电流/度倍率开关:调节迹线在垂直方向的移位。旋钮拉出,放大器增益扩大10倍,电流/度各挡IC标值×0.1,同时指示灯14亮.
  16. Y轴增益:校正Y轴增益。
  17. X轴增益:校正X轴增益。
  18.显示开关:分转换、接地、校准三挡,其作用是:
  ⑴转换:使图像在Ⅰ、Ⅲ象限内相互转换,便于由NPN管转测PNP管时简化测试操作。
  ⑵接地:放大器输入接地,表示输入为零的基准点。
  ⑶校准:按下校准键,光点在X、Y轴方向移动的距离刚好为10度,以达到10度校正目的。
  19. X轴移位:调节光迹在水平方向的移位。
  20. X轴选择(电压/度)开关:可以进行集电极电压、基极电流、基极电压和外接四种功能的转换,共17挡。
  21. “级/簇”调节:在0~10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。
  22. 调零旋钮 :测试前,应首先调整阶梯信号的起始级零电平的位置。当荧光屏上已观察到基极阶梯信号后,按下测试台上选择按键“零电压”,观察光点停留在荧光屏上的位置,复位后调节零旋钮,使阶梯信号的起始级光点仍在该处,这样阶梯信号的零电位即被准确校正。
  23. 阶梯信号选择开关:可以调节每级电流大小注入被测管的基极,作为测试各种特性曲线的基极信号源,共22挡。一般选用基极电流/级,当测试场效应管时选用基极源电压/级。
  24. 串联电阻开关:当阶梯信号选择开关置于电压/级的位置时,串联电阻将串联在被测管的输入电路中。
  25. 重复--关按键:弹出为重复,阶梯信号重复出现;按下为关,阶梯信号处于待触发状态。
  26. 阶梯信号待触发指示灯:重复按键按下时灯亮,阶梯信号进入待触发状态。
  27. 单簇按键开关:单簇的按动其作用是使预先调整好的电压(电流)/级,出现一次阶梯信号后回到等待触发位置,因此可利用它瞬间作用的特性来观察被测管的各种极限特性。
  28. 极性按键:极性的选择取决于被测管的特性。
  29. 测试台:其结构如图A-24所示。

  图A-24 XJ4810型半导体管特性图示仪测试台

  30. 测试选择按键:
  ⑴“左”、“右”、“二簇”:可以在测试时任选左右两个被测管的特性,当置于“二簇”时,即通过电子开关自动地交替显示左右二簇特性曲线,此时“级/簇”应置适当位置,以利于观察。二簇特性曲线比较时,请不要误按单簇按键。
  ⑵“零电压”键:按下此键用于调整阶梯信号的起始级在零电平的位置,见(22)项。
  ⑶“零电流”键:按下此键时被测管的基极处于开路状态,即能测量ICEO特性。
  31、32. 左右测试插孔:插上专用插座(随机附件),可测试F1、F2型管座的功率晶体管。
  33、34、35.晶体管测试插座。
  36. 二极管反向漏电流专用插孔(接地端)。
  在仪器右侧板上分布有图A-25所示的旋钮和端子:


  图A-25 XJ4810型半导体管特性图示仪右侧板

  37. 二簇移位旋钮:在二簇显示时,可改变右簇曲线的位置,更方便于配对晶体管各种参数的比较。
  38. Y轴信号输入:Y轴选择开关置外接时,Y轴信号由此插座输入。
  39. X轴信号输入:X轴选择开关置外接时,X轴信号由此插座输入。
  40. 校准信号输出端:1V、0.5V校准信号由此二孔输出。

  7.2测试前注意事项

  为保证仪器的合理使用,既不损坏被测晶体管,也不损坏仪器内部线路,在使用仪器前应注意下列事项:
  1. 对被测管的主要直流参数应有一个大概的了解和估计,特别要了解被测管的集电极最大允许耗散功率PCM、最大允许电流ICM和击穿电压BVEBO、BVCBO 。
  2. 选择好扫描和阶梯信号的极性,以适应不同管型和测试项目的需要。
  3. 根据所测参数或被测管允许的集电极电压,选择合适的扫描电压范围。一般情况下,应先将峰值电压调至零,更改扫描电压范围时,也应先将峰值电压调至零。选择一定的功耗电阻,测试反向特性时,功耗电阻要选大一些,同时将X、Y偏转开关置于合适挡位。测试时扫描电压应从零逐步调节到需要值。
  4. 对被测管进行必要的估算,以选择合适的阶梯电流或阶梯电压,一般宜先小一点,再根据需要逐步加大。测试时不应超过被测管的集电极最大允许功耗。
  5. 在进行ICM的测试时,一般采用单簇为宜,以免损坏被测管。
  6. 在进行IC或ICM的测试中,应根据集电极电压的实际情况选择,不应超过本仪器规定的最大电流,见表A-3。

  电压范围/V 0~10 0~50 0~100 0~500
  允许最大电流/A 5 1 0.5 0.1
  表A-3 最大电流对照表

  7. 进行高压测试时,应特别注意安全,电压应从零逐步调节到需要值。观察完毕,应及时将峰值电压调到零。

  7.3基本操作步骤

  1. 按下电源开关,指示灯亮,预热15分钟后,即可进行测试。
  2. 调节辉度、聚焦及辅助聚焦,使光点清晰。
  3. 将峰值电压旋钮调至零,峰值电压范围、极性、功耗电阻等开关置于测试所需位置。
  4. 对X、Y轴放大器进行10度校准。
  5. 调节阶梯调零。
  6. 选择需要的基极阶梯信号,将极性、串联电阻置于合适挡位,调节级/簇旋钮,使阶梯信号为10级/簇,阶梯信号置重复位置。
  7. 插上被测晶体管,缓慢地增大峰值电压,荧光屏上即有曲线显示。


  7.4测试实例

  1. 晶体管hFE和β值的测量
  以NPN型3DK2晶体管为例,查手册得知3DK2 hFE的测试条件为VCE =1V、IC=10mA。将光点移至荧光屏的左下角作座表零点。仪器部件的置位详见表A-4。
  表A-4 3DK2晶体管hFE、β测试时仪器部件的置位
  部件 置位 部件 置位
  峰值电压范围 0~10V Y轴集电极电流 1 mA /度
  集电极极性 + 阶梯信号 重复
  功耗电阻 250Ω 阶梯极性 +
  X轴集电极电压 1V/度 阶梯选择 20μA

  逐渐加大峰值电压就能在显示屏上看到一簇特性曲线,如图A-26所示.读出X轴集电极电压Vce =1V时最上面一条曲线(每条曲线为20μA,最下面一条IB=0不计在内)IB值和Y轴IC值,可得
  hFE = = = =42.5
  若把X轴选择开关放在基极电流或基极源电压位置,即可得到图A-27所示的电流放大特性曲线。即
  β=


  图A-26 晶体三极管输出特性曲线 图A-27 电流放大特性曲线

  PNP型三极管hFE和β的测量方法同上,只需改变扫描电压极性、阶梯信号极性、并把光点移至荧光屏右上角即可。
  2.晶体管反向电流的测试
  以NPN型3DK2晶体管为例,查手册得知3DK2 ICBO、ICEO的测试条件为VCB、VCE均为10V。测试时,仪器部件的置位详见表A-5。
  逐渐调高“峰值电压”使X轴VCB=10V,读出Y轴的偏移量,即为被测值。被测管的接线方法如图1-28,其中图A-28(a)测ICBO值,图A-28(b)测ICEO值、图A-28(c)测IEBO值。


  图A-28 晶体管反向电流的测试
  表A-5 3DK2晶体管反向电流测试时仪器部件的置位
  项目
  部件 位置
  ICBO
  ICEO
  峰值电压范围 0~10V 0~10V
  极性 + +
  X轴集电极电压 2V/度 2V/度
  Y轴集电极电流 10μA/度 10μA/度
  倍率 Y轴位移拉出×0.1 Y轴位移拉出×0.1
  功耗限制电阻 5KΩ 5KΩ

  测试曲线如图A-29所示。
  读数:ICBO=0.5μA(VCB=10V) ICEO=1μA(VCE=10V)


  图A-29 反向电流测试曲线

  PNP型晶体管的测试方法与NPN型晶体管的测试方法相同。可按测试条件,适当改变挡位,并把集电极扫描电压极性改为“—”,把光点调到荧光屏的右下角(阶梯极性为“+”时)或右上角(阶梯极性为“—”时)即可。
  3.晶体管击穿电压的测试
  以NPN型3DK2晶体管为例,查手册得知3DK2 BVCBO、BVCEO、BVEBO的测试条件IC分别为100μA、200μA和100μA。测试时,仪器部件的置位详见表A-6。
  逐步调高“峰值电压”,被测管按图A-30(a)的接法,Y轴IC=0.1mA时,X轴的偏移量为BVCEO值;被测管按图A-30(b)的接法,Y轴IC=0.2m A时,X轴的偏移量为BVCEO值;被测管按图A-30(c)的接法,Y轴IC=0.1mA时,X轴的偏移量为BVEBO值。

  表A-6 3DK2晶体管击穿电压测试时仪器部件的置位
  置位 项目
  部件
  BVCBO

  BVCEO
  BVEBO
  峰值电压范围 0~100V 0~100V 0~10V
  极性 + + +
  X轴集电极电压 10V/度 10V/度 1V/度
  Y轴集电极电流 20μA/度 20μA/度 20μA/度
  功耗限止电阻 1 kΩ~5 kΩ 1 kΩ~5 kΩ 1 kΩ~5 kΩ

  测试曲线如图A-30所示。


  图A-30 反向击穿电压曲线(NPN)


  图A-31 反向击穿电压曲线(PNP)

  读数:BVCBO=70V(IC=100μA)
  BVCEO=60V(IC=200μA)
  BVEBO=7.8V(IC=100μA)
  PNP型晶体管的测试方法与NPN型晶体管的测试方法相似。其测试曲线如图1-31所示。
  4.稳压二极管的测试
  以2CW19稳压二极管为例,查手册得知2CW19稳定电压的测试条件IR=3mA。测试时。仪器部件置位详见表A-7。
  逐渐加大“峰值电压”,即可在荧光屏上看到被测管的特性曲线,如图A-32所示。

  表A-7 2CW19稳压二极管测试时仪器部件的置位
  部件 置位 部件
  置位
  峰值电压范围 AC 0~10V X轴集电极电压 5V/度
  功耗限止电阻 5 kΩ Y轴集电极电流 1mA/度

  读数:正向压降约0.7V,稳定电压约12.5V。
  5.整流二极管反向漏电电流的测试
  以2DP5C整流二极管为例,查手册得知2DP5的反向电流应≤500nA。测试时,仪器各部件的置位详见表A-8。
  逐渐增大“峰值电压”,在荧光屏上即可显示被测管反向漏电电流特性,如图A-33所示。
  读数:IR=4div×0.2μA×0.1(倍率)=80 nA
  测量结果表明,被测管性能符合要求。


  图A-32 稳压二极管特性曲线 图A-33 二极管反向电流测试

  表A-8 2DP5C整流二极管测试时仪器部件的置位
  部件 置位 部件
  置位
  峰值电压范围 0~10V Y轴集电极电流 0.2μA/度
  功耗限制电阻 1 kΩ 倍率 Y轴位移拉出×0.1
  X轴集电极电压 1V/度

  6.二簇特性曲线比较测试
  以NPN型3DG6晶体管为例,查手册得知3DG6晶体管输出特性的测试条件为IC=10 mA、VCE=10V。测试时,仪器部件的置位详见表A-9。
  将被测的两只晶体管,分别插入测试台左、右插座内,然后按表1-8置位各功能键,参数调至理想位置。按下测试选择按钮的“二簇”琴键,逐步增大峰值电压,即可要荧光屏上显示二簇特性曲线,如图A-34所示。

  表A-9 二簇特性曲线测试时仪器部件的置位
  部件 置位 部件 置位
  峰值电压范围 0~10V Y轴集电极电流 1 mA/度
  极性 + “重复--关”开关 重复
  功耗限制电阻 250Ω 阶梯信号选择开关 10μA/级
  X轴集电极电压 1V/度 阶梯极性 +

  当测试配对管要求很高时,可调节“二簇位移旋钮”(37),使右簇曲线左移,视其曲线重合程度,可判定其输出特性的一致程度。


  图A-34 二簇输出特性曲线

伏安特性曲线起始点的斜率就表征了导通电阻,斜率越大,电阻越小。


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